标准编号:BS EN 60749-22-2003
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 粘接强度
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Bond strength
发布部门:
发布日期:2003-07-04
实施日期:2003-07-04
标准状态:现行
文件格式:PDF
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标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 粘接强度
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Bond strength
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