标准编号：BS EN 60749-8-2003
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 密封
英文名称：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
发布部门：
发布日期：2003-07-03
实施日期：2003-07-03
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。
标准编号：BS EN 60749-8-2003
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 密封
英文名称：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
发布部门：
发布日期：2003-07-03
实施日期：2003-07-03
标准状态：现行
文件格式：PDF