标准编号：BS EN 60749-5-2003
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 稳态温度湿度偏差寿命试验
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Steady-state temperature humidity bias life test
发布部门：
发布日期：2003-06-18
实施日期：2003-06-18
标准状态：现行
文件格式：PDF
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