标准编号：DIN EN 60749-3-2003
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002
发布部门：
发布日期：2003-04-01
实施日期：2003-04-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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