标准编号：IEEE/ANSI N 42.31-2003
标准名称：电离辐射的宽能隙半导体探测器的分辨率和能效用测量规程用美国国家标准
英文名称：American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation
发布部门：美国电气电子工程师学会(IEEE)
发布日期：2003-01-01
实施日期：2003-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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