标准编号:NF C96-005-3/A1-2002
标准名称:半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测量方法
英文名称:(Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Partie 5-3 : optoelectronic devices - Measuring methods.)
发布部门:
发布日期:2002-12-01
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF