标准编号:IEC 60749-18-2002
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐射(总剂量)
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
发布部门:
发布日期:2002-12-01
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF
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