标准编号：IEC/PAS 62162 Edition 1.0-2000
标准名称：微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
英文名称：Filed-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
发布部门：国际电工委员会(IEC)
发布日期：2000-08-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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