标准编号：JIS R1637-1998
标准名称：用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法
英文名称：Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
发布部门：
发布日期：1998-01-20
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准编号：JIS R1637-1998
标准名称：用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法
英文名称：Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
发布部门：
发布日期：1998-01-20
实施日期：
标准状态：现行
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