标准编号：JIS H0615-1996
标准名称：用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
英文名称：Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy
发布部门：
发布日期：1996-01-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。