标准编号：JIS H0604-1995
标准名称：用光电导衰减法测量硅单晶中少数载流子的寿命
英文名称：Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
发布部门：
发布日期：1995-07-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准编号：JIS H0604-1995
标准名称：用光电导衰减法测量硅单晶中少数载流子的寿命
英文名称：Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
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发布日期：1995-07-01
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标准状态：现行
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