标准编号：GB/T 1553-2009
标准名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
英文名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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