标准编号：DIN 41850-3-1985
标准名称：薄膜集成电路.第3部分:材料、介电糊剂的评价方法
英文名称：Integrated film circuits; methods for the assessment of dielectric pastes
发布部门：
发布日期：1985-09-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准名称：薄膜集成电路.第3部分:材料、介电糊剂的评价方法
英文名称：Integrated film circuits; methods for the assessment of dielectric pastes
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发布日期：1985-09-01
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