标准编号：DIN 41850-4-1976
标准名称：薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法
英文名称：Integrated film circuits; material, methods for judgement of thick film resistor compositions
发布部门：
发布日期：1976-01-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准名称：薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法
英文名称：Integrated film circuits; material, methods for judgement of thick film resistor compositions
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发布日期：1976-01-01
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