标准编号：EN 62415-2010
标准名称：半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC 62415-2010);德文版本EN 62415-2010
英文名称：Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010
发布部门：欧洲标准化委员会(CEN)
发布日期：
实施日期：2010-12-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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