标准编号：EN 60749-40-2011
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC 60749-40-2011). 德文版本 EN 60749-40-2011
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011
发布部门：欧洲标准化委员会(CEN)
发布日期：
实施日期：2012-02-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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