标准编号：EN 60749-37-2008
标准名称：半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008
发布部门：欧洲标准化委员会(CEN)
发布日期：
实施日期：2008-08-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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