标准编号：ASTM F1892-2012
标准名称：半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南
英文名称：Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
发布部门：美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期：
实施日期：2012-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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