标准编号：ASTM F1467-2011
标准名称：半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南
英文名称：Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
发布部门：美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期：
实施日期：2011-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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