标准编号：ASTM F1192-2000
标准名称：半导体器件重离子照射感应产生的单件信号现象的测量标准指南
英文名称：Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
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发布日期：
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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