标准编号：ASTM E431-1996(2011)
标准名称：半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南
英文名称：Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
发布部门：美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期：
实施日期：1996-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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