标准编号:ASTM E2246-2011e1
标准名称:采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
英文名称:Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin,Reflecting Films Using an Optical Interferometer
发布部门:美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期:
实施日期:2011-01-01
标准状态:现行
文件格式:PDF