标准编号：ASTM E1250-2010
标准名称：评估硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标...
英文名称：Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
发布部门：
发布日期：
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。