标准编号：ASTM E1250-1988
标准名称：硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能γ成分评估的电离箱的应用的标准试验方法
英文名称：Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
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实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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