标准编号：ASTM D5796-2003(2010)
标准名称：用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
英文名称：Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device
发布部门：美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期：
实施日期：2003-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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