标准编号：GB/T 14032-1992
标准名称：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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