标准编号：GB/T 20724-2006
标准名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
英文名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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