标准编号:T/CASAS 003-2018
标准名称:p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片
英文名称:4H-SiC Epitaxial Wafers for p-IGBT Devices
发布部门:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
发布日期:2018-11-20
实施日期:2018-11-20
标准状态:现行
文件格式:PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们,我们将及时删除相关资源。
标准编号:T/CASAS 003-2018
标准名称:p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片
英文名称:4H-SiC Epitaxial Wafers for p-IGBT Devices
发布部门:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
发布日期:2018-11-20
实施日期:2018-11-20
标准状态:现行
文件格式:PDF