标准编号：GB/T 19403.1-2003
标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
英文名称：Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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