JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告的要求。
本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
标准编号：JB/T 8268-2015
标准名称：静电复印光导体表面缺陷测量方法
英文名称：Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
替代情况：替代JB/T 8268-1999
起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司、理光图像技术（上海）有限公司深圳分公司、湖北鼎龙化学股份有限公司、柯尼卡美能达（中国）投资有限公司、上海富士施乐有限公司、兄弟（中国）商业有限公司、东芝泰格信息系统（深圳）有限公司、佳能（中国）有限公司
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：1.01MB

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2022-12-27 09:59 上传

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