GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。
本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
标准编号：GB/T 43226-2023
标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
英文名称：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
标准状态：现行
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人员：赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：647.04KB

标准全文下载：
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2024-1-16 11:59 上传

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