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QJ 3267-2006 电子元器件搪锡工艺技术要求

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发表于 2022-12-2 10:43:58 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了航天电子电气产品中电子元器件搪锡工艺的技术要求。
本标准适用于航天电子电气产品中电子元器件的搪锡。
标准编号:QJ 3267-2006
标准名称:电子元器件搪锡工艺技术要求
英文名称:Technological requirements for electronic component tinning
发布日期:2006-12-15
实施日期:2007-05-01
标准状态:现行
替代情况:替代QJ/Z 147-1985
起草单位:中国航天时代电子公司五三九厂
文件格式:PDF
文件页数:10页
文件大小:440.07KB

标准全文下载:
QJ 3267-2006 电子元器件搪锡工艺技术要求.pdf (440.07 KB)

文档首页截图如下:
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