SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

billylauwh

本标准规定了二极管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。
标准编号：SJ/T 11767-2020
标准名称：二极管低频噪声参数测试方法
英文名称：Measurement method of low-frequency noise parameters for diodes
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
标准状态：现行
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院、中国运载火箭技术研究院、中国振华集团永光电子有限公司、济南市半导体元件实验所、深圳市量为科技有限公司、北京燕东微电子有限公司、辽宁朝阳无线电元件有限责任公司
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：2.88MB

标准全文下载：
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2023-1-31 08:48 上传

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