SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

billylauwh · 发表于 2023-1-31 08:48:16

本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
标准编号：SJ/T 11766-2020
标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
英文名称：Measurement method of low-frequency noise parameters for photocouplers
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
标准状态：现行
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院、中国运载火箭技术研究院、北京瑞普北光电子有限公司、苏州半导体总厂有限公司、中国振华集团永光电子有限公司、深圳市量为科技有限公司、中国电子科技集团公司第四十四研究所
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：2.83MB

标准全文下载：

SJT 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf (2.83 MB)

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