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GB/T 37254-2018 高纯碳化硅 微量元素的测定

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发表于 2023-1-15 22:34:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。
本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9%的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1(以质量分数计)。
标准编号:GB/T 37254-2018
标准名称:高纯碳化硅 微量元素的测定
英文名称:High purity silicon carbide—Determination of trace elements
发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期:2018-12-28
实施日期:2019-09-01
标准状态:现行
起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所、宁波伏尔肯机械密封件制造有限公司
起草人员:陈奕睿、邬国平、朱燕、屈海云、汪正、邹慧君、黄伟峰、谢方民
文件格式:PDF
文件页数:9页
文件大小:302.87KB

标准全文下载:
GBT 37254-2018 高纯碳化硅 微量元素的测定.pdf (302.87 KB)

文档首页截图如下:
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