GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告

本标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量，以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。
标准编号：GB/T 36401-2018
标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
英文名称：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-05-01
标准状态：现行
起草单位：厦门荷清教育咨询有限公司、清华大学化学系
起草人员：汤丁亮、李展平、岑丹霞、姚文清、刘芬、王水菊
文件格式：PDF
文件页数：42页
文件大小：1.41MB

标准全文下载：
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