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SJ/T 11845.1-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第 1 部分:通用要求

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秀才

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发表于 2023-10-18 11:34:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件规定了基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的通用要求,为具体电子元器件可靠性的低频噪声评价方法标准的制定和实施提供指导。
本文件适用于在电子元器件生产过程中及使用前对元器件可靠
性进行评价,由研制生产企业、用户或其它相应检测机构实施。
标准编号:SJ/T 11845.1-2022
标准名称:基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第 1 部分:通用要求
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2022-09-30
实施日期:2023-01-01
标准状态:现行
文件格式:PDF
文件页数:9页
文件大小:3.06MB

标准全文下载:
SJT 11845.1-2022.pdf (3.06 MB)

文档首页截图如下:
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