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GJB 1420B-2011 半导体集成电路外壳通用规范

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发表于 2023-7-13 14:16:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
本规范规定了军用半导体集成电路外壳(以下简称外壳)生产和交付的一般要求,以及外壳应满足的质量和可靠性保证要求。
本规范适用于半导体集成电路用的多层陶瓷外壳。外壳一般指底座。
标准编号:GJB 1420B-2011
标准名称:半导体集成电路外壳通用规范
英文名称:General specification for packages of semiconductor integrated circuits
发布部门:总装
发布日期:2011-12-25
实施日期:2012-04-01
标准状态:现行
起草单位:工业和信息化部电子第四研究所、电子科技集团公司第58研究所、宜兴电子器件总厂、电子科技集团公司第13研究所
起草人员:李锟、陈裕焜、丁荣峥、郑宏宇、史丽英
文件格式:PDF
文件页数:43页
文件大小:1.91MB

标准全文下载:
GJB 1420B-2011 半导体集成电路外壳通用规范.pdf (1.91 MB)

文档首页截图如下:
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