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GJB 7350-2011 军用电子器件脉冲γ射线效应试验方法

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发表于 2023-7-13 13:30:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了军用电子器件在脉冲γ射线、X射线辐照下,瞬时电离辐射效应的测量方法。
本标准适用于脉冲电离辐射引起的剂量率闩锁试验、剂量率翻转试验、剂量率响应试验、初始光电流的测量试验。
标准编号:GJB 7350-2011
标准名称:军用电子器件脉冲γ射线效应试验方法
英文名称:Test method of pulse γ-ray radiation effects for military electronic devices
发布部门:总装
发布日期:2011-05-25
实施日期:2011-08-01
标准状态:现行
起草单位:解放军第21试验训练基地
起草人员:林东生、王桂珍、杨善潮、郭晓强、陈伟、徐娜军、龚建成、李瑞宾、白小燕、刘岩
文件格式:PDF
文件页数:18页
文件大小:699.59KB

标准全文下载:
GJB 7350-2011 军用电子器件脉冲γ射线效应试验方法.pdf (699.59 KB)

文档首页截图如下:
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