SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

billylauwh

本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。
标准编号：SJ/T 11765-2020
标准名称：晶体管低频噪声参数测试方法
英文名称：Measurement method of low-frequency noise parameters for transistors
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
标准状态：现行
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学、中国振华集团永光电子有限公司、江西联创特种微电子有限公司、深圳市量为科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、石家庄天林石无二电子有限公司、苏州半导体总厂有限公司、济南市半导体元件实验所
文件格式：PDF
文件页数：9页
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2023-1-31 08:47 上传

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